先进结构与材料数智化设计
张际亮

职 称:讲师/中级

学 历:博士

职 务:硕士生导师

电 话:13906013786

电子邮箱:Mikeswell@hqu.edu.cn

研究方向:先进结构与材料数智化设计

基本信息

张际亮,男,博士,硕士生导师

工作学习经历

1999-2008浙江大学材料系 获学士学位、博士学位

2008-2011 厦门宏发电声股份有限公司博士后工作站

2011-至今 伟德国际1946官网

研究方向

表面/界面工艺

多孔模具材料

主持或参加的科研项目

主持项目:

福建省自然科学基金-青年人才创新项目《铜合金粉末分层(分段)微波烧结的界面结合机理研究》(2012J05093)

高等学校博士学科点专项科研基金《基体表面特性对分段微波烧结制备铜合金界面结合性能的影响研究》(20133501120001)

主要任职

硕士生导师,学院工会委员

研究领域

表面/界面工艺:

分层微波烧结快速成形;CVD;表面热处理;表面/界面工程;薄膜、涂层工艺

多孔模具材料:

多孔模具材料的设计与快速成形工艺研究;多孔模具在注塑行业的应用

主要论著与学术论文

1. Ji-Liang Zhang, Wei-mu Xu, Zhuan-ke Chen, Jiang-ping Tu.Study on the Electrical Life of AgSnO2 Contacts in Automotive Inductive Load Applications. ICREPEC 3rd Proceedings 2009

2. ZHANG Ji-Liang, LI Jian, LUO Lai-ma, WO Yin-hua.Microstructure and morphology of SiOx film deposited by APCVD. Journal of Alloy and Compound. 2009, 469(12):535-538 (SCI, EI)

3. Zhang Ji-Liang, Li Jian. A Simple Approch of Preparing Amorphous SiOx Film on Aluminum Substrate. Materials Letters. 2007, 61(29):5110-5112 (SCI, EI)

4. ZHANG Ji-liang, SUN Xue-peng, LI Jian, WO Yin-hua.Mechanical properties of SiOx film on aluminum substrate. Transactions of materials and heat treatment. 2007, 28(Supplement):275 -278. (EI)

5. Zhang Ji-Liang, Li Jian, Wo Yin-Hua, Wang You-Wen, Gan Zheng-Hao. Bending test and bonding mechanism analysis of the SiOx film on aluminum substrate. Transactions of materials and heat treatment. 2006, 27(1):68-70. (EI)

6. Zhang Ji-Liang, Wo Yin-Hua, Li Jian; Gan Zheng-Hao, Xu Ya-Bo. Optical properties of SiOx film on aluminum substrate prepared by APCVD. Journal of Zhejiang University (Engineering Science). 2005, 39(8):1243-1246. (EI)

7. ZHANG Ji-liang, LI Jian, WO Yin-hua, WANG You-wen, GAN Zheng-hao. Analysis of the SiOx Film Microstructure on Al Substrate by APCVD Process. 14th Congress of International Federation for Heat Treatment and Surface Engineering. Transactions of materials and heat treatment. 2004, 25(5):847-850. (EI)

8. Zhang Ji-Liang, Li Jian, Wo Yin-Hua, Wang You-Wen, Shen Fu-Chu, Gan Zheng-Hao. Microstructure and Properties of SiOx Film on Aluminum Substrate by CVD Process. Chinese Journal of Nonferrous Metals. 2004, 14(6):961-966(EI)

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